年度	2010
全部作者	陳科宏、Shao-Chang Huang、Ke-Horng Chen、Hsin-Ming Chen、Michael Ho、and Shih-Jye Shen
論文名稱	ESD Avoiding Circuits for Solving OTP Memory Falsely Programmed Issues
期刊名稱	IEEE CAS Magazine
卷數	Vol. 10
期數	Issue 2
起頁	30
迄頁	39
語言	英文