年度 2010
全部作者 陈科宏、Shao-Chang Huang、Ke-Horng Chen、Hsin-Ming Chen、Michael Ho、and Shih-Jye Shen
论文名称 ESD Avoiding Circuits for Solving OTP Memory Falsely Programmed Issues
期刊名称 IEEE CAS Magazine
卷数 Vol. 10
期数 Issue 2
起页 30
迄页 39
语言 英文